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紅外線測厚儀RX200

簡要描述:RX-200 測量方法:紅外線反射吸收式 分光方式:旋轉過濾器方式(可以實際裝載6張) 測量距離:25mm(本體部下方面) 測量面積:5×8mm(橢圓) 尺寸?重量:230 (W)×134(D)×90(H),約4.5kg

  • 產品型號:RX200
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2023-07-25
  • 訪  問  量:471

詳細介紹

正反射P偏光型標準在線膜厚計!消除了引起誤差的表面反射,可以正確進行測量。

如果把紅外線照射到被測物上,就會發生與膜厚相對應的特定波長的紅外線吸收現象。從透過光或鏡面金屬板的正反射光來掌握吸收量,再按事先測得的吸光度與水分值的關系式,可以測量膜厚。

并且,采用本公司獨自的P偏光入射方式。消除因表面反射或內部多重反射引起的誤差,提供紅外線測厚儀的硬件。

  • 節省空間(在線)
    因為是小型傳感器頭,故不受放置空間約束。只需占用現有生產線上的狹小空間。
  • 瞬間測量
    無需任何前處理。且可實現非破壞、非接觸的瞬間測量。
  • 廣泛的適應性
    通過由zui大6波長組成的濾光器,可以測量各種材質的膜厚及水分。
  • 出眾的測量精度
    通過采用本公司獨自的P偏光方式,即使是幾μm以下的薄膜,也可得到穩定的測量結果。
  • 擁有值得信賴的長期穩定性
    根據周圍環境和裝置的變動,采用3波長測光方式確保長期性的精度。


 

用途例

  • LCD用光學薄膜測厚
  • 聚合電池的隔離板測厚
  • 彩色顯像管蔭罩的感光乳劑測厚
  • 鋁箔上的乙烯涂層測厚
  • 防霧加工薄膜的防霧劑涂層測厚
  • 復合膜的粘合劑涂層測厚
  • 收縮標簽的脫膠檢查等
  • 鋼板上的有機附著量測量


 

規格

 

項目規格
測量方法紅外線反射吸收式
分光方式旋轉過濾器方式(可以實際安裝6張)
測量距離25mm(從本體部下面)
測量面積5×8mm(橢圓)
尺寸、重量、電源傳感器頭230(W)×134(D)×90(H)、約4.5kg(不含突起部)
數據處理部275(W)×300(D)×165(H)、約6.7kg(不含突起部)
中繼單元部250(W)×140(D)×113(H)、約3kg(不含突起部)
外部輸出從模擬0~10v 到4~20mA進行選擇(出廠時設定)
環境溫度0~40℃(沒有結露)
電源AC100V±10% 50/60Hz

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