產品中心
當前位置:首頁 > 產品中心 > HORIBA(理科學) > X射線熒光光譜儀 > XGT-7200X射線分析顯微鏡
詳細介紹
XGT-7200技術參數
測量元素:Na~U
X射線管:銠(Rh)靶 /管電壓 50 kV / 管電流 1 mA
X射線熒光檢測器:SDD硅漂移檢測器
透過X射線檢測器:NaI(Ti)晶體
X射線導管:單毛細管 10μm / 100μm 無濾光片
光學圖像:樣品整體光學像及共軸放大圖像
樣品臺尺寸:XY:100mm×100mm
樣品倉:全真空模式/ zui大真空 300mm×300mm×80mm
信號處理:數值脈沖處理器(INCA處理器 )
定性分析:自動定義譜峰/ KLM線標注/ 譜峰查找/ 譜峰匹配
定量分析:無標樣基本參數法/ 標準無標樣基本參數法/ 標準文件匹配基本參數法/ 校正曲線/ 多層膜基本參數法/ 多點分析(zui多5000)/ 多點結果輸出至Excel®
面掃描功能:透過X射線像/ 元素面分布圖/ 譜圖面掃描 /矩形面掃描/ 生成譜圖/ RGB合成/ 標尺/ 線分析
其它功能:可同時開啟XGT-5200操作軟件
產品咨詢